高温四探针测试仪结构组成及应用范围概述
更新时间：2021-01-25 点击次数：1714
高温四探针测试仪采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。
是为了满足材料在高温环境下的阻抗特性测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成，包括高温测试平台、高温四探针夹具、电阻率测试仪和高温电阻率测量系统软件四个组成部分。
测试应用范围
高温四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。根据不同材料特性需要，配有多款测试探头：
1）高耐磨碳化钨探针探头，测量硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；
2）球形镀金铜合金探针探头，测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻；
3）配合四端子测试夹具，测量电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻；
4）高温四探针测试仪探头可测试电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。
当前位置：
地址：北京海淀区
邮箱：LH13391680256@163.com
传真：