• <legend id="msmiu"></legend>
  • <tr id="msmiu"><button id="msmiu"></button></tr>
    <legend id="msmiu"></legend>
    <s id="msmiu"><code id="msmiu"></code></s>
  • <tr id="msmiu"><input id="msmiu"></input></tr>
  • 您好!欢迎访问北京华测试验仪器有限公司网站!
    全国服务咨询热线:

    13911821020

    当前位置:首页 > 技术文章 > 功能材料电学综合测试系统介绍(一)

    功能材料电学综合测试系统介绍(一)

    更新时间:2021-03-23      点击次数:1922

    铁电参数测试功能

    Dynamic Hysteresis 动态电滞回线测试频率

    Static Hysterestic 静态电滞回线测试;

    PUND 脉冲测试;

    Fatigue 疲劳测试;

    Retention保持力;

    Imprint印迹;

    Leakage current漏电流测试;

    Thermo Measurement 变温测试功能。

    压电参数测试功能

    可进行压电陶瓷的准静态d33等参数测试,也可通过高压放大器与位移传感器(如激光干涉仪)动态法测量压电系数测量。

     

    热释电测试功能

    主要用于薄膜及块体材料变温的热释电测试。采用电流法进行测量材料的热释电电流、热释电系数、剩余极化强度对温度和时间的曲线。

    薄膜材料变温范围:-196℃到+600℃;

    块体材料变温范围:室温到200℃、室温到600℃、室温到800

    介电温谱测试功能

    用于分析宽频、高低温环境条件下功能材料的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、因数Q等物理量,同时还可以分析被测样品随温度、频率、时间、偏压变化的曲线。也可进行压电陶瓷的居里温度测试。

     

    热激发极化电流测试仪 TSDC

      用于研究材功材料的一些关键因素,诸如分子弛豫、相转变、玻璃化温度等等,通过TSDC技术也可以比较直观的研究材料的弛豫时间、活化能等相关的介电特性。

    绝缘电阻测试功能

    精zhun度的电压输出与电流测量,保障测试的,适用于功能材料在高温环境材料的数据的检测。例如:陶瓷材料、硅橡胶测试、PCB、云母、四氟材料电阻测试、也可做为科研院所新材料的高温绝缘电阻的测试。

    高温四探针测试功能

    符合功能材料导体、半导体材料与其它新材料在高温环境下测试多样化的需求。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。也可应用于产品检测以及新材料电学研究等用途。

    塞贝克系数/电阻测量系统

    适用于半导体,陶瓷材料,金属材料等多种材料的多种热电分析;可根据用户需求配置薄膜测量选件,低温选件温度范围-100℃到200℃,高阻选件高至10MΩ。

    电卡效应测试功能

    还可以用于测试材料在宽温度范围内的电卡。

    温度范围:-50℃到200℃、热流时间范围:1s-1000s,大电压可达10kV,

    波形:用户自定、脉冲、三角波、正弦波、任意波形、预定义波形。

    用户可根据不同的需要,选择不同的配置。

    北京华测试验仪器有限公司
    地址:北京海淀区
    邮箱:LH13391680256@163.com
    传真:
    关注我们
    欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息:
    欢迎您关注我们的微信公众号
    了解更多信息

    京公网安备11011302007496号

    性一交一乱一伧国产女士spa <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链>