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    华测高温低电阻测试仪技术参数及采购必知

    更新时间:2022-07-26      点击次数:1237

     

    华测高温低电阻测试仪技术参数及采购必知



    一、华测高温低电阻测试仪功能特点:

    █ 多功能真空加热炉,一体炉膛设计、可实现、高温、真 空、气氛环境下进行测试 

    █ 采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提高测试精度;

    █ 可以测量半导体薄膜材、薄片材料的电阻、电阻率;

    █ 可实现常温、变温、恒温条件的I-V、R-T等测量功能;

    █ 温度传感器、PID自动温度控制,使测量温度zhunque;

    █ 仪器可自动计算试样的电阻率pv;

    █ 10寸触摸屏设计,一体化设计机械结构,稳定; 

    █ 程控电子升压技术,纹波低、TVS防护系统,仪器性; 

    █ 99氧化铝陶瓷绝缘、碳化钨探针;

    █ huace pro 控制分析软件。

     

    二、华测高温低电阻测试仪技术参数:

    1、温度范围:室温-1000℃, (反射炉加温 )配水冷机; 

    2、控温精度:(温控) ±0 5℃ ;

    3、测量精度: ± 0.25℃;

    4、升温斜率:20℃/min (可设定);

    5、降温斜率:  1-200℃/min ( 自调整);

    6、测量精度:0.5%;

    7、样品规格:直径: 20mm 以内;厚度: 5mm以内; 

    8、电材料:铂金;

    9、测量方式:2 线- 4线测量方式;

    10、测量范围: 0.1uΩ- 100MΩ

    11、供 电:220V±10%,50Hz;

    12、工作环境:0℃ - 55℃;

    13、存储条件:- 40℃-70℃;

    14、尺 寸:750mmX660mmX360mm;

    15、重 量: kg 25

     

    产品型号

    温度范围

    设备功能

    HGTZ-901

    室温-800C°

    单组试样;片状样品;四探针法;薄膜或薄片状样品;真空、气氛环境

    HGTZ-902

    室温-1200C°

    单组试样;片状样品;四探针法;薄膜或薄片状样品;真空、气氛环境

    HGTZ-903

    室温-1450C°

    单组试样;片状样品;四探针法;薄膜或薄片状样品;真空、气氛环境














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