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更新时间：2025-04-27      点击次数：485

集五大测试?？?/span>和多通道同步测量的测试设备传感器多功能综合测试系统

传感器多功能综合测试系统是一款高度集成化、多参数协同检测的科研设备，专为材料科学、电子器件、能源及传感技术领域的复杂测试需求设计。系统融合温度、电阻、电容、压电、电化学五大测试?？?，支持40通道同步测量与8通道电化学分析，覆盖-20℃至500℃宽温区、10pA至1A宽量程、20Hz至10MHz宽频段等关键参数，可精准完成材料介电特性、传感器动态响应、电化学行为等多维度表征。结合高性能工作站与智能化测控软件，系统满足从基础研究到产业化验证的全链条测试需求，为科研机构与企业提供高效、可靠的一体化解决方案。

系统框图

应用领域

新型功能材料开发

l 宽温区介电性能分析（如铁电材料、聚合物复合材料）；

l 压电/热电材料开路电压、电流特性表征；

l 储能材料（超级电容器、电池电极）的阻抗谱与电化学行为测试。

电子元器件与传感器测试

l 多通道MEMS传感器批量性能验证；

l 导体器件电阻-温度特性、电容-频率响应分析；

l 柔性电子器件的机械-电学耦合参数测量。

新能源与工业检测

• 燃料电池、锂离子电池的电化学阻抗谱（EIS）与循环伏安测试；

• 光伏材料载流子迁移率、界面电荷传输特性研究；

• 工业传感器产线的自动化标定与可靠性评估。

前沿科研与教育

• 高校实验室用于材料物性、传感器原理等课程教学演示；

• 科研院所开展二维材料、量子器件等交叉学科研究。

技术指标

温度测试?？?/span>

温度测量范围：-20℃ ～ 500℃

测温方式：红外

测温精度：±2℃

微距镜头：20μm

40通道电阻式传感器测试?？?/span>

电压测量范围：0V（采集）到200V DC的电压测量

电压输出范围：0V ～ 200V

电流测量范围：10pA到1A的电流测量

四象限运行：0.012%基本精度

带可编程进行传感器：I-t、I-V曲线测试

测量最大通道数量：40CH

40通道电容式传感器测试?？?/span>

测试频率：20Hz ～ 10MHz

测量参数：|Z| 、|Y| 、θ 、R 、X 、G 、B 、L 、C 、D 、Q 、Z 、Y 、Vac 、lac 、Vdc 、ldc

DC测试信号精度：1V（固定）；最快测量时间：＜3ms

测量模式：电表模式、多步模式；等效电路：串联、并联；校正

功能：具有扫频功能

开路电压测量范围：DC±1mV ～ ±200V

开路电流测量范围：1fA ～ 20mA

高速阵列卡最大测量通道数：40CH，最大切换速度0.05s

40通道压电式传感器测试?？?/span>

开路电压测量范围：DC±1mV ～ ±200V

开路电流测量范围：1fA ～ 20mA

开路电压测量输入阻抗：1×1014Ω（100TΩ）

电压与电流测量阵列卡测量通道数：40CH（最大）

8通道多通道电化学测试?？?/span>

输出电压范围：±13V

施加/测量电位范围：±10V

施加测量电流范围：±1A

测量电位精度：满里程的0.1%±1mV

测量电位分辨率：760nV

测量电流精度：±0.1%读数±1pA

测量电流分辨率：8fA（1nA里程）

电流档：1nA~1A,全自动量程

恒电位带宽：2MHz

最大测量通道数：8CH

 

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