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  • TF Analyzer 2000E國(guó)產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測(cè)試儀器
    TF Analyzer 2000E國(guó)產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號(hào)：TF Analyzer 2000E

    瀏覽量：5897

    TF ANALYZER 2000E鐵電壓電分析儀/測(cè)試儀器是一款擴(kuò)展性高的速型模塊化鐵電壓電分析儀，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。國(guó)產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測(cè)試儀器
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  • TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀
    TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀

    更新時(shí)間：2024-06-04

    型號(hào)：TF Analyzer 1000

    瀏覽量：2727

    TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，適用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷及鐵電器件等分析測(cè)試。
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  • 高溫退火爐測(cè)試儀器
    高溫退火爐測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2023-08-11

    型號(hào)：

    瀏覽量：4014

    高溫退火爐測(cè)試儀器加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對(duì)爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，也無(wú)法實(shí)現(xiàn)溫度的測(cè)量，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象，華測(cè)儀器通過(guò)多年研究開(kāi)發(fā)了一種可實(shí)現(xiàn)，高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置，在高速加熱高速冷卻時(shí)，具有良好的溫度分布。
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  • HPZT-200壓電系數(shù)測(cè)試儀器
    HPZT-200壓電系數(shù)測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2025-01-14

    型號(hào)：HPZT-200

    瀏覽量：2979

    壓電系數(shù)測(cè)試儀器除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性外，還具有壓電。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)極化處理之后，就具有了各向異性，每項(xiàng)參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。
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  • 高壓熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)
    高壓熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)

    更新時(shí)間：2024-12-08

    型號(hào)：

    瀏覽量：2548

    高壓熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)，是被廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域，用于研究材料的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等。
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  • AMR-UD導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng) 可靠性電路測(cè)試系統(tǒng)
    AMR-UD導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng) 可靠性電路測(cè)試系統(tǒng)

    更新時(shí)間：2024-07-23

    型號(hào)：AMR-UD

    瀏覽量：3649

    導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng) 可靠性電路測(cè)試系統(tǒng)在低溫、高溫的溫度循環(huán)環(huán)境下，采用4端子測(cè)試法對(duì)焊點(diǎn)、連接器接點(diǎn)等導(dǎo)體進(jìn)行多通道微小電阻連續(xù)測(cè)量，以評(píng)估電子裝配與材料的正確性和可靠性。操作軟件可實(shí)時(shí)自動(dòng)測(cè)量記錄數(shù)據(jù)，圖表化微小電阻變化及試驗(yàn)箱溫度變化，可通過(guò)LAN進(jìn)行數(shù)據(jù)處理
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  • 絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/PCB測(cè)試
    絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/PCB測(cè)試

    更新時(shí)間：2025-09-15

    型號(hào)：

    瀏覽量：4987

    面對(duì)電子產(chǎn)品越來(lái)越小型輕量及絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/PCB測(cè)試配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可連續(xù)監(jiān)測(cè)，簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。
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  • 介電溫譜試驗(yàn)儀可測(cè)薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具
    介電溫譜試驗(yàn)儀可測(cè)薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具

    更新時(shí)間：2024-12-08

    型號(hào)：

    瀏覽量：3911

    介電溫譜試驗(yàn)儀可測(cè)薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具，主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測(cè)試軟件于一體，可測(cè)試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機(jī)電耦合系數(shù)等，同時(shí)可分析被測(cè)樣品隨溫度，頻率，時(shí)間變化的曲線，測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。
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