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國(guó)標(biāo)設(shè)備

電壓擊穿測(cè)試儀耐電弧試驗(yàn)儀高壓、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計(jì)）電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

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HCDH-200、300耐漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-03

型號(hào)：HCDH-200、300

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耐漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器：耐漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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耐漏電起痕HCDH-200測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-03

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工程塑料、耐漏電起痕HCDH-200測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-03

型號(hào)：

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電弱點(diǎn)測(cè)試儀華測(cè)實(shí)驗(yàn)儀器有限公司HCRD

更新時(shí)間：2024-12-16

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電弱點(diǎn)測(cè)試儀華測(cè)實(shí)驗(yàn)儀器有限公司HCRD-20kv：該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶(hù)的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。
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電弱點(diǎn)測(cè)試儀器HCRD-300

更新時(shí)間：2024-12-16

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Huace-300表面體積電阻率測(cè)試儀北京華測(cè)*

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型號(hào)：Huace-300

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絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀Huace-300

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：

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硫化橡膠絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀Huace-300： Huace-300型表面、體積電阻率測(cè)定儀符合并優(yōu)于標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》和ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》等標(biāo)準(zhǔn)的要求。
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表面體積電阻率測(cè)試儀Huace-300

更新時(shí)間：2024-06-05

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