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    • HC-RD-1100塞贝克系数电阻测试仪
      HC-RD-1100塞贝克系数电阻测试仪

      更新时间:2025-07-04

      型号:

      浏览量:474

      HC-RD-1100塞贝克系数电阻测试仪:热电效应描述了材料中温度和电的相互影响,它基于三个基本效应:塞贝克效应、珀尔帖效应和汤姆森效应。塞贝克效应是1821年由德国物理学家J. T. Seebeck发现的,描述了在电绝缘导体中施加温度梯度时电场的形成。
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    • HCAM-50KV四象限输出高压放大器
      HCAM-50KV四象限输出高压放大器

      更新时间:2025-05-29

      型号:

      浏览量:640

      HCAM-50KV四象限输出高压放大器是一款直流稳定的高电压功率放大器,采用全固态设计,具有高转换速率、宽带宽和低噪声操作。用于工业和科研用途的高压功率放大器,采用全固态设计,可实现高转换速率、高带宽和低噪声输出。
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    • 华测仪器高转换速率HCAM-7KV高压功率放大器
      华测仪器高转换速率HCAM-7KV高压功率放大器

      更新时间:2025-05-29

      型号:

      浏览量:631

      华测仪器高转换速率HCAM-7KV高压功率放大器是一款直流稳定的高电压功率放大器,采用全固态设计,具有高转换速率、宽带宽和低噪声操作。
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    • CGO-4半导体封装材料4英寸真空探针台带显微镜
      CGO-4半导体封装材料4英寸真空探针台带显微镜

      更新时间:2025-02-28

      型号:CGO-4

      浏览量:552

      半导体封装材料4英寸真空探针台带显微镜是一种能够在高真空环境下进行精确测量和实验的设备。其基本原理是利用真空环境下的物理现象和特性,对样品进行各种实验和测量。在高真空环境中,气体分子很少,这有助于减少空气阻力、空气振动和其他干扰因素,从而获得较为准确和可靠的实验数据。
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    • CGO-2半导体材料真空探针台电学性能测试系统
      CGO-2半导体材料真空探针台电学性能测试系统

      更新时间:2025-02-28

      型号:CGO-2

      浏览量:664

      半导体材料真空探针台电学性能测试系统是一种能够在高真空环境下进行精确测量和实验的设备。其基本原理是利用真空环境下的物理现象和特性,对样品进行各种实验和测量。在高真空环境中,气体分子很少,这有助于减少空气阻力、空气振动和其他干扰因素,从而获得较为准确和可靠的实验数据。
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    • 优良功能材料电测综合测试系统
      优良功能材料电测综合测试系统

      更新时间:2025-03-11

      型号:

      浏览量:426

      优良功能材料电测综合测试系统是用于铁电、热释电、压电材料和电卡材料各种重要性能参数测试的最基本仪器设备,可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电/电卡薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。它不仅可作为近代物理实验中的固体物理实验设备,还可作为工业化生产铁电存储器的铁电性能检测设备。
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    • 橡胶塑料电压击穿试验仪
      橡胶塑料电压击穿试验仪

      更新时间:2025-04-07

      型号:

      浏览量:676

      橡胶塑料电压击穿试验仪采用计算机控制,可对试验过程中的各种数据进行快速、准确的采集、处理,并可存取、显示、打印。
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    • 绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统
      绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统

      更新时间:2025-02-28

      型号:

      浏览量:576

      离子迁移是指电路板上的金属如铜、银、锡等在一定条件下发生离子化并在电场作用下通过绝缘层向另一极迁移而导致绝缘性能下降。绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统是一种信赖性试验设备。
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