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    Huace-8D 双面探针台

    简要描述:Huace-8D 双面探针台可用于晶圆和PCB板测试,用于需要正面和背面同时扎针,以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。

    • 产品型号:
    • 厂商性质:生产厂家
    • 更新时间:2024-12-12
    • 访  问  量:1708

    详细介绍

    品牌HUACE/北京华测产地类别国产
    应用领域化工,能源,电子/电池,电气,综合

    Huace-8D 双面探针台


    双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试,用于需要正面和背面同时扎针,以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。该定制探针台具有优良的机械系统,稳定的结构,符合人体工程学,以及多项升级功能??晒惴河τ糜诩傻缏?、Wafer , LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域。


    技术参数型号

    Huace-8D双面探针台

    台体

    chuck尺寸

    8英寸

    平旋转

    卡盘可以360度旋转,细调精度不大于0.1度,带有锁定旋钮

    XY移动行程

    8英寸*8英寸

    XY移动精度

    10um/1um可选

    样品固定

    样品夹定,尺寸可调;真空吸附固定,卡盘多圈吸附环可独立控制

    双面点针平台

    气动升降平台升起为双平台,落下可做单平台使用

    平台针座数量

    单平台最多放置8个CB-200针座

    卡盘结构

    普通/高温/带背电极等结构卡可选择

    温控系统

    温度范围

    室温~300℃ (400℃,500℃可?。?/span>

    温控精度

    0.1℃

    温控稳定性

    ±1℃

    温控传感器

    100Ω 铂电阻传感器

    正面光学系统

    CCD

    200W/500W/1200W像素可?。ㄕ疵妫?/span>

    显微镜类型

    单筒/体视/金相显微镜可选

    放大倍率

    16X-100X/20X-2000X

    显微镜调节

    水平方向绕立柱旋转X-Y移动2*2英寸,Z轴行程50.8mm

    光源

    外置LED环形光源/同轴光源

    背面光学系统

    显微镜类型

    L型单筒显微镜

    连续变倍比

    6.3:1

    放大倍率范围

    0.75–5X

    放大倍率

    315X(计算公式:变焦*CCD*显示器)

    显微镜调节

    万向移动

    光源

    同轴光源

    技术参数型号

    台体配件技术参数

    探针座

    X-Y-Z移动行程

    12*12*12mm

    移动精度

    10/2/0.7/0.5/0.35um可选

    固定方式

    磁力吸附/真空吸附可选

    探针夹具

    线缆

    同轴线/三轴线可

    漏电精度

    10pA/100fA

    探针固定方式

    弹簧固定/管状固定

    接头类型

    BNC/三同轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子等可选

    探针

    材质

    钨钢/铍铜可选

    针尖直径

    0.2/1/2/5/10/20/50/100um可选

    探针可选配件

    屏蔽箱

    高压测试配件

    光学防震桌

    射频测试配件

    镀金卡盘

    转接头

    探针卡夹具

    其他


    公司专注于绝缘材料与xianjin功能新材料电性能检测以及材料电学测控设备研发与制造,先后成为华为、中兴、国家电网、航天工业等合格供应商。我们不仅具备自营进出口权,获得了多项软件著作权和实用新型zl等知识产权,并顺利通过了ISO9001的质量管理体系认证,更在测试测量行业积累了丰富的产品新产品研发、系统集成开发经验。公司拥有功能材料、电气绝缘材料两个电学试验室;涉及材料测试仪器、器件的放大、调理、采集、控制;传感器性能综合评价等相关仪器。


    公司主营产品:

    几大系列:*功能材料电学综合测试系统、绝缘诊断测试系统、高低温介电温谱测试仪、极化装置与电源、高压放大器、PVDV薄膜极化、高低温冷热台、铁电压电热释电测试仪、绝缘材料电学性能综合测试平台、电击穿强度试验仪、耐电弧试验仪、高压漏电起痕测试仪、冲击电压试验仪、储能材料电学测控系统、压电传感器测控系统。


    Huace-8D 双面探针台




















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