• <legend id="msmiu"></legend>
  • <tr id="msmiu"><button id="msmiu"></button></tr>
    <legend id="msmiu"></legend>
    <s id="msmiu"><code id="msmiu"></code></s>
  • <tr id="msmiu"><input id="msmiu"></input></tr>
  • 您好!欢迎访问北京华测试验仪器有限公司网站!
    全国服务咨询热线:

    13911821020

    当前位置:首页 > 产品中心 > 半导体封装材料测试系统 > TSDC测试系统
    • HC-TSC2000半导体封装材料TSDC测试系统
      HC-TSC2000半导体封装材料TSDC测试系统

      更新时间:2024-12-06

      型号:HC-TSC2000

      浏览量:1101

      半导体封装材料TSDC测试系统因为热刺激电流与材料的这些参数(如h与τ)密切相关,故它是一种研究介电材料、绝缘材料、半导体材料等的有效手段。tsc是指当样品受到电场极化后,去掉电场,热激时,样品从极化态转变到平衡态的过程中,在外电路中得到的电流,称为热激退极化电流。
      了解详情
    共 1 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
    北京华测试验仪器有限公司
    地址:北京海淀区
    邮箱:LH13391680256@163.com
    传真:
    关注我们
    欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息:
    欢迎您关注我们的微信公众号
    了解更多信息

    京公网安备11011302007496号

    性一交一乱一伧国产女士spa <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链>